기기 한글명 | 기기 영문명 | 기기 약어 | 모델 | 담당자 | 연락처 | 위치 | 기기상태 |
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3D 금속현미경 | 3D Surface Metal Microscope | 금속현미경 | MM-400 Stand |
진선민 | 043-841-5751 | 공동실험실습관 206호 공초점레이저현미경실 |
정상 |
SEM시편전처리장비 | Cross Section Polisher | CP | IB-19510CP | 박소희 | 043-841-5752 | 공동실험실습관 1층 107호 전자현미경실 |
정상 |
전자탐침미세분석기 | Electron Probe Micro Analyzer | EPMA | EPMA-1600 / SHIMADZU | 박소희 | 043-841-5752 | 공동실험실습관 2층 201호 표면분석실Ⅱ |
정상 |
전계방사형 주사전자현미경 | Field Emission Scanning Electron Microscope | FE-SEM (6700F) |
JSM-6700F / JEOL | 박소희 | 043-841-5752 | 공동실험실습관 2층 202호 표면분석실Ⅰ |
정상 |
입도분석기 | Particle Size Analyzer | 1090L | 이고은 | 043-841-5751 | 공동실험실습관 204호 | 정상 | |
표면프로파일러 | Surface Profiler | Surface Profiler |
ET-3000i | 박소희 | 043-841-5752 | 공동실험실습관 2층 204호 분광분석실 |
정상 |
고분해능전계방사형 주사전자현미경 |
Ultra High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope | FE SEM (7610F) |
JSM-7610F | 박소희 | 043-841-5752 | 공동실험실습관 1층 107호 전자현미경실 |
정상 |
자외/가시/근적외선 미세분광광도계 |
UV/Vis/NIR Microspectrometer | QDI-1000 / CRAIC |
진선민 | 043-841-5751 | 공동실험실습관 2층 204호 분광분석실 |
정상 |